该供应商的新产品
加载的板测试探针用于检查加载电路板。加载板的常见测试方法是ICT（电路测试）和FCT（功能测试）。两种方法都检查了组件和电路连接的性能，以检测生产过程中有缺陷的组件。 ICT和FCT确保已加载的电路板＆rsquo;通过评估测试组件在未来应用领域的复制环境中的连接性能并控制组件的电气性能以评估电路的全面连接的正常操作。
＆nbsp;
规范：
<！ - [如果！supportLists] - > 1. ＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; ;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; <！ - [endif] - > 推荐的最小。中心：＆nbsp;＆nbsp; 4.2（.165＆quot;）
<！ - [如果！supportLists] - > 2。＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; ;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; <！ - [endif] - > 完整旅行：＆nbsp;＆nbsp; ＆nbsp;＆nbsp; 10（0.393＆quot;）
<！ - [如果！supportLists] - > 3. ＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; ;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;态10a
<！ - [如果！supportLists] - > 4. ＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; ;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;态50m＆Omega;
＆nbsp;
材料和材料和材料饰面：
<！ - [如果！支持清单] - > 1. ＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; ;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; <！ - [endif] - > 柱塞：＆nbsp; 黄铜，镀金
<！ - [如果！支持清单] - > 2。＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; ;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;在;＆nbsp; 黄铜，ni plated
<！ - [如果！支持清单] - > 3. ＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; ;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; <！ - [endif] - > spring：＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp;＆nbsp; ;＆nbsp; 不锈钢
业务性质
制造商/工厂
成立年份
2023
国家/地区
台北, 台湾
主要产品
Bare Board Test Probe, Loaded Board Test Probe, Semiconductor Test Probe, High-frequency Test Probe...
付款条件
Bank wire (T/T)
Chunglai Hung于1996年在台湾成立，在测试探针PIN和PCB探针的研究和开发方面做出了努力，包括董事会测试探针，装载板测试探针，半导体测试探针，高频测试探针，高频测试探针等。
